介質(zhì)損耗測(cè)試儀采用自動(dòng)變頻在干擾頻率50Hz兩側(cè)（45Hz和55Hz）各測(cè)一個(gè)點(diǎn)，然后推算50Hz頻率下數(shù)據(jù)。除多個(gè)元件電路的低頻諧振外，單個(gè)試品中的介質(zhì)不可能在低頻引起能量吸收峰，工頻附近介損總是隨頻率單調(diào)變化的，因此這種測(cè)量方法不會(huì)帶來明顯誤差。 實(shí)際上，平均前的兩個(gè)介損值已十分接近，即使不平均也*有參考價(jià)值。目前，變頻介損儀已成為介損測(cè)量的常規(guī)儀器，其優(yōu)異的抗力和準(zhǔn)確度已經(jīng)得到認(rèn)可。 介損有RC串聯(lián)和并聯(lián)兩種理想模型：串聯(lián)模型tgδ=2πfRC，并聯(lián)模型tgδ=1/(2πfRC)，tgδ分別隨頻率f成正比和反比。f對(duì)*正比和*反比兩種模型影響較大。但實(shí)際電容器是多種模型交織的混合模型，此時(shí)f的影響就小。 介質(zhì)損耗測(cè)試儀變頻測(cè)量時(shí)： 干擾十分嚴(yán)重時(shí)，變頻測(cè)量能得到準(zhǔn)確可靠的結(jié)果。例如用55Hz測(cè)量時(shí)，測(cè)量系統(tǒng)只允許55Hz信號(hào)通過，50Hz干擾信號(hào)被有效抑制，原因在于測(cè)量系統(tǒng)很容易區(qū)別不同頻率，由下述簡(jiǎn)單計(jì)算可以說明選頻測(cè)量的效果： 兩個(gè)頻率相差1倍的正弦波疊加到一起，高頻的是干擾，幅度為低頻的10倍： Y=1.234sin(x+5.678°)+12.34sin(2x+87.65°) 在x=0/90/180/270°得到4個(gè)測(cè)量值 Y0=12.4517，Y1=-11.1017，Y2=12.2075，Y3=-13.5576， 計(jì)算A=Y1-Y3=2.4559，B=Y0-Y2=0.2442，則： φ=tg-1(B/A)=5.678°V=A2+B2/2=1.234 這剛好是低頻部分的相位和幅度，干擾被抑制。實(shí)際波形的測(cè)量點(diǎn)多達(dá)數(shù)萬，計(jì)算量很大，結(jié)果反映了波形的整體特征。 |
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